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致茂Chroma 3650 SoC 測試系統(tǒng) 50/100MHz測試工作頻率 512個 I/O 通道（I/O Channel） 16M （32M Max.） Pattern 記憶體（Pattern Memory） Per-Pin 彈性資源架構(gòu) 32 DUTS 平行測試功能 ADC/DAC 測試功能

致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng) 50/100MHz測試工作頻率 1024個 I/O 通道（I/O Channel） 32M （64M Max.） Pattern 記憶體 （Pattern Memory） Per-Pin 彈性資源架構(gòu) 512 DUTS 平行測試功能 96個電源通道 硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器 （Algorithmic Pattern Gener

致茂Chroma 3680 *SoC/模擬測試系統(tǒng) 24個可互換插槽，用于數(shù)字，模擬和混合信號應(yīng)用 150 Mbps數(shù)據(jù)速率 （muxed模式蕞高1Gbps） 蕞高512 sites并行測試 多達2048個數(shù)字通道管腳 256 MW向量存儲深度 （512 MW可選配）（X2模式） 64通道高精度測量PMU

致茂Chroma 8000 光伏逆變器自動測試系統(tǒng) 以Chroma 8000 ATS為基礎(chǔ)的客制化系統(tǒng)，專門針對光伏逆變器測試驗證。 Chroma 8000自動測試系統(tǒng)配備了優(yōu)化的標(biāo)準(zhǔn)測試項目，針對光伏逆變器，符合EN50530、Sandia Lab、IEEE1547、1547.1、UL1741、中國國標(biāo)GB/T 19939、CGC/GF004/GF035（NB/T 32004）的電氣初步

Chroma7210光伏電池表面品質(zhì)檢查暨分色系統(tǒng) 安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或終端分選設(shè)備 光伏電池正面或背面印刷瑕疵皆可檢測 可檢測PERC和Bifacial制程所產(chǎn)生的瑕疵